IEC 60747-5-6:2016 Полупроводниковые приборы. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60747-5-6:2016
Полупроводниковые приборы. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды.

Стандартный №
IEC 60747-5-6:2016
Дата публикации
2016
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
IEC 60747-5-6:2021 RLV
Последняя версия
IEC 60747-5-6:2021 RLV
заменять
IEC 47E/529/FDIS:2015 IEC 60747-5-1-1997(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-1 AMD 1-2001(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-1 AMD 2-2002(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-1 Edition 1.2-2002(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-2-1997(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-2 AMD 1-2002(部分代替)(部分代替) IEC 60747-5-2 Edi
сфера применения
Эта часть IEC 60747 определяет терминологию, основные номиналы и характеристики, методы измерения и оценку качества светоизлучающих диодов (СИД) для общепромышленных применений, таких как сигналы, контроллеры, датчики и т. д. Светодиоды для освещения не относятся к категории область применения данной части МЭК 60747. Типы светодиодов делятся на следующие пять классов: а) корпус светодиодов; б) светодиодный плоский осветитель; в) светодиодный цифровой дисплей и буквенно-цифровой дисплей; г) светодиодный матричный дисплей; д) I LED (инфракрасный диод). Светодиоды с теплоотводом или с геометрией выводов, выполняющей функцию теплоотвода, подпадают под действие настоящей части IEC 60747. Интеграция светодиодов и устройств управления, встроенных светодиодных модулей, полуинтегрированных светодиодных модулей, встроенных светодиодных ламп или полуинтегрированные светодиодные лампы выходят за рамки данной части IEC 60747.

IEC 60747-5-6:2016 Ссылочный документ

  • IEC 60051-1:2016 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 1. Определения и общие требования, общие для всех частей.
  • IEC 60051-2:1984 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 2. Особые требования к амперметрам и вольтметрам.
  • IEC 60051-3:1984 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 3. Особые требования к ваттметрам и варметрам.
  • IEC 60051-4:1984 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 4. Особые требования к частотомерам
  • IEC 60051-5:1985 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 5. Специальные требования к фазомерам, измерителям коэффициента мощности и синхроноскопам.
  • IEC 60051-6:1984 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 6. Особые требования к омметрам (измерителям импеданса) и измерителям проводимости.
  • IEC 60051-7:1984 Аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним. Часть 7. Особые требования к многофункциональным приборам.
  • IEC 60051-8:1984 Appareils mesureurs electricquesуказателианалогичныхдействийпрямого действия и аксессуаров Huiteme party: Частные предписания для аксессуаров (издание 4.0)
  • IEC 60051-9:1988 Индикаторные аналоговые электроизмерительные приборы прямого действия и принадлежности к ним; часть 9: рекомендуемые методы испытаний
  • IEC 60068-2-30:2005 Экологические испытания. Часть 2-30. Испытания. Испытание Db: Влажное тепло, циклическое (12-часовой + 12-часовой цикл)
  • IEC 60749-10:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
  • IEC 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты.
  • IEC 60749-14:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность выводов)
  • IEC 60749-15:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстия.
  • IEC 60749-20:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20. Устойчивость SMD в пластиковой капсуле к совместному воздействию влаги и тепла пайки.
  • IEC 60749-21:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость
  • IEC 60749-24:2005  Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 24. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый HAST
  • IEC 60749-25:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 25. Температурное циклирование.
  • IEC 60749-36:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 36. Ускорение в установившемся состоянии.
  • IEC 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
  • ISO 2859:1974 Процедуры отбора проб и таблицы для проверки по признакам

IEC 60747-5-6:2016 История

  • 0000 IEC 60747-5-6:2021 RLV
  • 2016 IEC 60747-5-6:2016 Полупроводниковые приборы. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды.



© 2023. Все права защищены.