IEC 60749-21:2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость

Стандартный №

IEC 60749-21:2011

Дата публикации

2011

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-21:2011

заменять

IEC 47/2082/FDIS:2011 IEC 60749-21:2005

IEC 60749-21:2011 История

• 2011 IEC 60749-21:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость
• 2005 IEC 60749-21:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость
• 2004 IEC 60749-21:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость