IEC 60749-10:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
- Стандартный №
- IEC 60749-10:2002
- Дата публикации
- 2002
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-10:2002/COR1:2003
- Последняя версия
- IEC 60749-10:2022
- заменять
- IEC 47/1598/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62186:2000
- сфера применения
- В этой части IEC 60749 описывается испытание на удар, предназначенное для определения пригодности составных частей для использования в электронном оборудовании, которое может подвергаться умеренно сильным ударам в результате внезапно приложенных сил или резких изменений в движении, вызванных небрежным обращением, транспортировкой или полевая операция. Удары такого типа могут нарушить рабочие характеристики, особенно если ударные импульсы повторяются. Это разрушительное испытание. Обычно это применимо к упаковкам полого типа. В целом, это испытание на механический удар соответствует IEC 60068-2-27, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта.
IEC 60749-10:2002 История
- 2022 IEC 60749-10:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и узлы.
- 2003 IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
- 2002 IEC 60749-10:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
