IEC 60749:1996
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

Стандартный №

IEC 60749:1996

Дата публикации

1996

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета 2002-04

быть заменен

IEC 60749/AMD1:2000

Последняя версия

IEC 60749:2002

заменять

IEC 47/1394/FDIS:1996 IEC 60749:1984 IEC 60749 AMD 1:1991 IEC 60749 AMD 2:1993

IEC 60749:1996 История

• 2002 IEC 60749:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 2001 IEC 60749/AMD2:2001 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний; Поправка 2
• 2000 IEC 60749/AMD1:2000 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний; Поправка 1
• 1996 IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 1993 IEC 60749/AMD2:1993 Полупроводниковые приборы; механические и климатические методы испытаний; поправка 2
• 1991 IEC 60749/AMD1:1991 Полупроводниковые приборы; механические и климатические методы испытаний; поправка 1
• 1984 IEC 60749:1984 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний