IEC 60749-10:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.

Стандартный №

IEC 60749-10:2002/COR1:2003

Дата публикации

2003

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 60749-10:2022

Последняя версия

IEC 60749-10:2022

сфера применения

Это техническое исправление 1 к IEC 60749-10-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар).

IEC 60749-10:2002/COR1:2003 История

• 2022 IEC 60749-10:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и узлы.
• 2003 IEC 60749-10:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
• 2002 IEC 60749-10:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.