IEC 60749-24:2005
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 24. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый HAST

Стандартный №

IEC 60749-24:2005

Дата публикации

2005

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-24:2005

сфера применения

Объективное ускоренное стресс-тестирование проводится с целью оценки надежности негерметично упакованных полупроводниковых устройств во влажных средах. Он использует температуру и влажность в условиях без конденсации для ускорения

IEC 60749-24:2005 История

• 2005 IEC 60749-24:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 24. Ускоренная влагостойкость. Непредвзятый HAST
• 2004 IEC 60749-24:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 24. Повышенная влагостойкость. Непредвзятый HAST (редакция 1.0; заменяет IEC PAS 62336:2002).