GB/T 30656-2014 (Англоязычная версия) Полированные пластины монокристаллического карбида кремния. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 30656-2014
Полированные пластины монокристаллического карбида кремния. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 30656-2014
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2014
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
состояние
 2023-10
быть заменен
GB/T 30656-2023
Последняя версия
GB/T 30656-2023
сфера применения
Настоящий стандарт определяет требования, методы контроля, правила контроля, маркировку, упаковку, транспортировку, хранение, сертификаты качества и заказы (или контракты) на полированные пластины монокристаллического карбида кремния 4H и 6H. Настоящий стандарт распространяется на монокристаллические полировальные пластины карбида кремния 4H и 6H, полученные после односторонней или двусторонней полировки. Продукция в основном используется для изготовления эпитаксиальных подложек для полупроводникового освещения и силовой электронной техники.

GB/T 30656-2014 Ссылочный документ

  • DIN 50448 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Бесконтактное определение удельного электросопротивления полуизолирующих полупроводниковых пластинок с помощью емкостного зонда
  • GB/T 13387 Метод испытаний для измерения плоских пластин кремния и других электронных материалов
  • GB/T 13388 Способ измерения кристаллографической ориентации плоских поверхностей на пластинах и пластинах монокристаллического кремния рентгеновскими методами
  • GB/T 14140 Метод испытаний для измерения диаметра полупроводниковой пластины
  • GB/T 14264 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
  • GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*2023-08-06 Обновление
  • GB/T 29505 Метод испытаний для измерения шероховатости плоских поверхностей кремниевой пластины
  • GB/T 29507 Метод испытаний для измерения плоскостности, толщины и изменения общей толщины кремниевых пластин. Автоматическое бесконтактное сканирование.
  • GB/T 31351 Метод неразрушающего контроля микротрубной плотности полированных пластин монокристаллического карбида кремния
  • GB/T 6616 Бесконтактный вихретоковый метод измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин и листов полупроводниковых пленок.*2023-08-06 Обновление
  • GB/T 6619 Метод испытаний дуги из кремниевых пластин
  • GB/T 6620 Метод испытаний для измерения коробления кремниевых пластинок бесконтактным сканированием
  • GB/T 6624 Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля

GB/T 30656-2014 История

  • 2023 GB/T 30656-2023 Монокристаллическая полированная пластина карбида кремния
  • 2014 GB/T 30656-2014 Полированные пластины монокристаллического карбида кремния.



© 2023. Все права защищены.