SJ/T 11396-2009
Сапфировые подложки для нитридных светодиодов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ/T 11396-2009
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- Последняя версия
- SJ/T 11396-2009
- сфера применения
- Настоящий стандарт устанавливает технические требования, методы испытаний, контроль и испытания, маркировку, упаковку, транспортирование и хранение монокристаллических полированных подложек сапфира высокой чистоты для эпитаксиального нитрида галлия. Настоящий стандарт распространяется на изготовление монокристаллических полированных подложек сапфира высокой чистоты для эпитаксиального нитрида галлия полупроводниковых светодиодов.
SJ/T 11396-2009 Ссылочный документ
- GB/T 1031-1995 Параметры шероховатости поверхности и их значения
- GB/T 14264-1993 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
- GB/T 1554-1995 Метод испытания кристаллографического совершенства кремния методами преимущественного травления
- GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*， 2023-08-06 Обновление
- GB/T 2828.1-2003 Процедуры отбора проб для проверки по характеристикам. Часть 1. Схемы выборки, индексированные по пределу приемочного качества (AQL), для проверки каждой партии.
- GB/T 6618 Метод испытания толщины и изменения общей толщины пластинок кремния
- GB/T 6619 Метод испытаний дуги из кремниевых пластин
- GB/T 6620 Метод испытаний для измерения коробления кремниевых пластинок бесконтактным сканированием
- GB/T 6621 Методы проверки плоскостности поверхности пластинок кремния
- GB/T 6624 Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля
- SJ 20744-1999 Общие правила спектрального анализа инфракрасного поглощения на концентрацию примесей в полупроводниковых материалах
SJ/T 11396-2009 История
- 2009 SJ/T 11396-2009 Сапфировые подложки для нитридных светодиодов
