SJ 20744-1999
Общие правила спектрального анализа инфракрасного поглощения на концентрацию примесей в полупроводниковых материалах (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ 20744-1999

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1999

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ 20744-1999

сфера применения

Настоящий стандарт определяет терминологию, основные принципы, приборы и оборудование, подготовку проб, условия измерений, процедуры измерений и расчет результатов измерений для методов инфракрасного абсорбционного анализа содержания примесей в полупроводниковых материалах. Настоящий стандарт применим к методу инфракрасного анализа любого полупроводникового монокристаллического материала, прозрачного в инфракрасной области спектра и создающего полосы поглощения примесей в этой области.

SJ 20744-1999 История

• 1999 SJ 20744-1999 Общие правила спектрального анализа инфракрасного поглощения на концентрацию примесей в полупроводниковых материалах