GB/T 26071-2010
Монокристаллический кремний в виде нарезанных кусочков для фотоэлектрических солнечных элементов. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 26071-2010
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2019-06
- быть заменен
- GB/T 26071-2018
- Последняя версия
- GB/T 26071-2018
- сфера применения
- Этот стандарт определяет технические требования, методы испытаний, правила и знаки контроля, упаковку, транспортировку, хранение, сертификат качества и форму заказа солнечных элементов. Настоящий стандарт распространяется на нарезанные кубиками монокристаллические пластинки кремния для наземных солнечных элементов, изготовленные методом Чохральского (CZ/MCZ).
GB/T 26071-2010 Ссылочный документ
- GB/T 11073 Стандартный метод измерения изменения радиального удельного сопротивления на срезах кремния.
- GB/T 14140 Метод испытаний для измерения диаметра полупроводниковой пластины
- GB/T 14264 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
- GB/T 1550 Методы испытаний типа проводимости примесных полупроводниковых материалов*， 2018-12-28 Обновление
- GB/T 1552 Методика измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния и германия коллинеарной четырехзондовой решеткой
- GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*， 2023-08-06 Обновление
- GB/T 25076 Монокристаллический кремний для солнечных батарей.*， 2018-09-17 Обновление
- GB/T 26068 Измерение времени жизни рекомбинации носителей кремниевой пластины и слитка. Бесконтактное микроволновое отражение. Метод затухания фотопроводимости.*， 2019-11-01 Обновление
- GB/T 2828.1 Процедура проверки путем подсчета выборки, часть 1: План выборочного контроля по партиям, полученный по пределу приемочного качества (AQL)*， 2013-02-15 Обновление
- GB/T 6616 Бесконтактный вихретоковый метод измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин и листов полупроводниковых пленок.*， 2023-08-06 Обновление
- GB/T 6618 Метод испытания толщины и изменения общей толщины пластинок кремния
- GB/T 6620 Метод испытаний для измерения коробления кремниевых пластинок бесконтактным сканированием
GB/T 26071-2010 История
- 2018 GB/T 26071-2018 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
- 2011 GB/T 26071-2010 Монокристаллический кремний в виде нарезанных кусочков для фотоэлектрических солнечных элементов.
GB/T 26071-2010 Монокристаллический кремний в виде нарезанных кусочков для фотоэлектрических солнечных элементов. было изменено на CTI STD-137-2013 Пултрузионные конструкционные изделия из стекловолокна для использования в градирнях.
