GB/T 26068-2018 Измерение времени жизни рекомбинации носителей кремниевой пластины и слитка. Бесконтактное микроволновое отражение. Метод затухания фотопроводимости. (Англоязычная версия)
2019GB/T 26068-2018 Измерение времени жизни рекомбинации носителей кремниевой пластины и слитка. Бесконтактное микроволновое отражение. Метод затухания фотопроводимости.
2011GB/T 26068-2010 Метод испытания времени жизни рекомбинации носителей заряда в кремниевых пластинах путем бесконтактного измерения затухания фотопроводимости по коэффициенту микроволнового отражения