ASTM E1829-14
Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- Стандартный №
- ASTM E1829-14
- Дата публикации
- 2014
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM E1829-14(2020)
- Последняя версия
- ASTM E1829-14(2020)
- сфера применения
- 4.1. Правильное обращение и подготовка образцов особенно важны для анализа. Неправильное обращение с образцами может привести к изменению состава поверхности и получению ненадежных данных. С образцами следует обращаться осторожно, чтобы избежать попадания ложных примесей. Целью должно быть сохранение состояния поверхности, чтобы анализ оставался репрезентативным для исходного объекта. 4.2 AES, XPS и SIMS чувствительны к поверхностным слоям, толщина которых обычно составляет несколько нанометров. Такие тонкие слои могут подвергаться серьезным нарушениям в результате неправильного обращения с образцом (1).4. 4.3. В этом руководстве описаны методы минимизации влияния обращения с образцом на результаты, полученные с использованием аналитических методов, чувствительных к поверхности. Оно предназначено для владельцев образцов или покупателей услуг по анализу поверхности и аналитиков поверхности. Из-за широкого спектра типов образцов и необходимой информации здесь представлены только общие рекомендации и общие примеры. Оптимальные процедуры обращения будут зависеть от конкретного образца и необходимой информации. Поставщику образцов рекомендуется как можно скорее проконсультироваться с аналитиком поверхности относительно истории образца, конкретной проблемы, которую необходимо решить, или необходимой информации, а также конкретных требуемых процедур подготовки образца или обращения с ним. Аналитик поверхности также может обратиться к Руководству E1078, в котором обсуждаются дополнительные процедуры подготовки, монтажа и анализа образцов. 1.1 В этом руководстве рассматривается обращение с образцами и их подготовка перед анализом поверхности, и оно применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1 - электронная оже-спектроскопия (AES), 1.1.2 - электронная оже-спектроскопия (AES); Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS или ESCA) и масс-спектрометрия вторичных ионов 1.1.3 (SIMS). 1.1.4. Хотя эти методы в основном написаны для AES, XPS и SIMS, они также могут применяться ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов. там, где обращение с образцом может повлиять на измерения поверхностной чувствительности. 1.2. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E1829-14 Ссылочный документ
- ASTM E1078 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности
- ISO 18115-1 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии.
- ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ASTM E1829-14 История
- 2020 ASTM E1829-14(2020) Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- 2014 ASTM E1829-14 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- 2009 ASTM E1829-09 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- 2002 ASTM E1829-02 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- 1997 ASTM E1829-97 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
