1.1 В настоящем руководстве рассматривается подготовка и установка образцов до, во время и после анализа поверхности. 1.2 Настоящее руководство применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.2.1 Оже-электронная спектроскопия (AES), 1.2.2 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS или ESCA) и 1.2.3 Масс-спектрометрия вторичных ионов, SIMS. 1.2.4 Хотя эти методы в основном написаны для AES, XPS и SIMS, они также применимы ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов, где обращение с образцами может повлиять на измерения, чувствительные к поверхности. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E1078-97 История
2020ASTM E1078-14(2020) Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
2014ASTM E1078-14 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
2009ASTM E1078-09 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
2002ASTM E1078-02 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
1997ASTM E1078-97 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности