ASTM E1078-14(2020)
Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности

Стандартный №

ASTM E1078-14(2020)

Дата публикации

2020

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E1078-14(2020)

сфера применения

1.1 Настоящее руководство описывает подготовку и монтаж образцов до, во время и после анализа поверхности и применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1 Оже-электронная спектроскопия (AES), 1.1.2 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS и ESCA), и 1.1.3 Масс-спектрометрия вторичных ионов (ВИМС). 1.1.4 Хотя эти методы в первую очередь предназначены для AES, XPS и SIMS, они также применимы ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов, где обращение с образцами может повлиять на чувствительность поверхности. измерения. 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.4 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1078-14(2020) Ссылочный документ

• ASTM E1127 Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
• ASTM E1523 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
• ASTM E1829 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
• ASTM E983 Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии

ASTM E1078-14(2020) История

• 2020 ASTM E1078-14(2020) Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
• 2014 ASTM E1078-14 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
• 2009 ASTM E1078-09 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
• 2002 ASTM E1078-02 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
• 1997 ASTM E1078-97 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности