1.1 Настоящее руководство описывает обращение с образцами и их подготовку перед анализом поверхности и применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1 Электронная оже-спектроскопия (AES), 1.1.2 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS или ESCA) и 1.1.3 Вторичные ионы. масс-спектрометрия, SIMS.1.1.4 Хотя эти методы в первую очередь написаны для AES, XPS и SIMS, они также могут применяться ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов. где обращение с образцами может повлиять на измерения поверхностной чувствительности. 1.2 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E1829-97 История
2020ASTM E1829-14(2020) Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2014ASTM E1829-14 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2009ASTM E1829-09 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2002ASTM E1829-02 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
1997ASTM E1829-97 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности