Правильное обращение и подготовка образцов особенно важны для анализа. Неправильное обращение с образцами может привести к изменению состава поверхности и получению ненадежных данных. С образцами следует обращаться осторожно, чтобы избежать попадания ложных примесей. Целью должно быть сохранение состояния поверхности, чтобы анализ оставался репрезентативным для исходного объекта. AES, XPS и SIMS чувствительны к поверхностным слоям, толщина которых обычно составляет несколько нанометров. Такие тонкие слои могут подвергаться серьезным нарушениям в результате неправильного обращения с образцом (1). В этом руководстве описаны методы минимизации влияния манипуляций с образцами на результаты, полученные с использованием аналитических методов, чувствительных к поверхности. Оно предназначено для владельцев образцов или покупателей услуг по анализу поверхности и аналитиков поверхности. Из-за широкого спектра типов образцов и необходимой информации здесь представлены только общие рекомендации и общие примеры. Оптимальные процедуры обращения будут зависеть от конкретного образца и необходимой информации. Поставщику образцов рекомендуется как можно скорее проконсультироваться с аналитиком поверхности относительно истории образца, конкретной проблемы, которую необходимо решить, или необходимой информации, а также конкретных требуемых процедур подготовки образца или обращения с ним. Аналитику поверхности также рекомендуется ознакомиться с Руководством E 1078, в котором обсуждаются дополнительные процедуры подготовки, монтажа и анализа образцов. 1.1 В этом руководстве рассматриваются обращение с образцами и их подготовка перед анализом поверхности, и оно применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1 Оже-электрон. спектроскопия (AES), 1.1.2 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS или ESCA) и 1.1.3 Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). 1.1.4 Хотя эти методы в первую очередь предназначены для AES, XPS и SIMS, они также могут применяться ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов, где обращение с образцом может повлиять на поверхностно-чувствительные измерения. 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E1829-09 История
2020ASTM E1829-14(2020) Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2014ASTM E1829-14 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2009ASTM E1829-09 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2002ASTM E1829-02 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
1997ASTM E1829-97 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности