1.1 Настоящее руководство описывает обращение с образцами и их подготовку перед анализом поверхности и применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1 Электронная оже-спектроскопия (AES), 1.1.2 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS или ESCA) и 1.1.3 Вторичная ионная масс-спектрометрия (ВИМС). 1.1.4 Хотя эти методы в первую очередь предназначены для AES, XPS и SIMS, они также могут применяться ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов, где обращение с образцом может повлиять на измерения поверхностной чувствительности. . 1.2 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.3 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, изданном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).
ASTM E1829-14(2020) Ссылочный документ
ASTM E1078 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности
ISO 18115-1 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии.*, 2023-06-01 Обновление
ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.*, 2021-12-21 Обновление
ASTM E1829-14(2020) История
2020ASTM E1829-14(2020) Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2014ASTM E1829-14 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2009ASTM E1829-09 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
2002ASTM E1829-02 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
1997ASTM E1829-97 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности