ASTM E1078-14
Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
- Стандартный №
- ASTM E1078-14
- Дата публикации
- 2014
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM E1078-14(2020)
- Последняя версия
- ASTM E1078-14(2020)
- сфера применения
- 4.1. Правильная подготовка и установка образцов особенно важны для анализа поверхности. Неправильная подготовка образцов может привести к изменению состава поверхности и получению недостоверных данных. С образцами следует обращаться осторожно, чтобы избежать попадания ложных примесей в процесс подготовки и монтажа. Целью должно быть сохранение состояния поверхности, чтобы анализ оставался репрезентативным для оригинала. 4.2 AES, XPS или ESCA и SIMS чувствительны к поверхностным слоям, толщина которых обычно составляет несколько нанометров. Такие тонкие слои могут подвергаться серьезным возмущениям, вызванным обращением с образцом (1)4 или обработкой поверхности, которая может потребоваться перед введением в аналитическую камеру. Кроме того, методы крепления образцов могут повлиять на предполагаемый анализ. 4.3 В этом руководстве описаны методы, которые могут понадобиться аналитику поверхности, чтобы минимизировать влияние подготовки образцов при использовании любого аналитического метода, чувствительного к поверхности. Также описаны методы крепления образцов, позволяющие гарантировать, что желаемая информация не будет скомпрометирована. 4.4 Руководство E1829 описывает обращение с образцами, чувствительными к поверхности, и, как таковое, дополняет данное руководство. 1.1 Это руководство охватывает подготовку и монтаж образцов до, во время и после анализа поверхности и применимо к следующим дисциплинам анализа поверхности: 1.1.1&# Оже-электронная спектроскопия (AES), 1.1.2& # Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS и ESCA) и 1.1.3&##x00a0;масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). 1.1.4. Хотя эти методы в основном написаны для AES, XPS и SIMS, они также применимы ко многим методам поверхностно-чувствительного анализа, таким как спектрометрия рассеяния ионов, дифракция низкоэнергетических электронов и спектроскопия потерь энергии электронов, где образец обработка может повлиять на измерения, чувствительные к поверхности. 1.2. Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E1078-14 Ссылочный документ
- ASTM E1127 Стандартное руководство по профилированию глубины в электронной оже-спектроскопии
- ASTM E1523 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
- ASTM E1829 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
- ASTM E983 Стандартное руководство по минимизации нежелательных эффектов электронного пучка в электронной оже-спектроскопии
ASTM E1078-14 История
- 2020 ASTM E1078-14(2020) Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
- 2014 ASTM E1078-14 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
- 2009 ASTM E1078-09 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
- 2002 ASTM E1078-02 Стандартное руководство по подготовке и установке образцов при анализе поверхности
- 1997 ASTM E1078-97 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности
