GB/T 30110-2013
Методы измерения параметров слоев HgCdTe, используемых в космических инфракрасных детекторах (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 30110-2013
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 30110-2013
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы испытаний и требования к испытательному оборудованию для рабочих параметров эпитаксии теллурида ртути-кадмия (HgCdTe) для космических инфракрасных детекторов. Настоящий стандарт применяется к испытаниям параметров эпитаксиальных материалов из теллурида ртути-кадмия, используемых в космических инфракрасных детекторах, а испытания параметров эпитаксиальных материалов из теллурида ртути-кадмия для других целей могут использоваться в качестве эталона.
GB/T 30110-2013 Ссылочный документ
- GB/T 1553-2009 Методы определения времени жизни неосновных носителей в объемном германии и кремнии путем измерения затухания фотопроводимости
- GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
- GB/T 4326-2006 Измерение подвижности Холла и коэффициента Холла внешними полупроводниковыми монокристаллами
- GJB 1485 Прецизионность, достоверность и неопределенность методов испытания физических свойств материалов.
- GJB 2712 Требования к обеспечению качества средств измерений Система метрологического подтверждения
- GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
GB/T 30110-2013 История
- 2013 GB/T 30110-2013 Методы измерения параметров слоев HgCdTe, используемых в космических инфракрасных детекторах
