GB/T 1555-2009
Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 1555-2009
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2024-03
- быть заменен
- GB/T 1555-2023
- Последняя версия
- GB/T 1555-2023
- заменять
- GB/T 1555-1997
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы ориентации дифракции рентгеновских лучей и ориентации оптических структур полупроводниковых монокристаллов. Настоящий стандарт применяется к определению ориентации поверхности полупроводниковых монокристаллических материалов, приблизительно параллельной атомной плоскости с низким индексом.
GB/T 1555-2009 Ссылочный документ
- GB/T 14264-2009 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
- GB/T 2481.1-1998 Абразивы на связке. Определение и обозначение гранулометрического состава. Часть 1. Макрогриты от F4 до F220.
- GB/T 2481.2-2009 Абразивы на связке. Определение и обозначение гранулометрического состава. Часть 2. Микрозерна.
GB/T 1555-2009 История
- 2023 GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
- 2009 GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
- 1997 GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
