GB/T 1555-1997
Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 1555-1997
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1997
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2010-06
- быть заменен
- GB/T 1555-2009
- Последняя версия
- GB/T 1555-2023
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы ориентации дифракции рентгеновских лучей и ориентации оптических структур полупроводниковых монокристаллов. Настоящий стандарт применим для определения поверхностной ориентации кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов, приблизительно параллельной атомным плоскостям с низким индексом. Настоящий стандарт включает два метода испытаний: Метод А. Метод ориентации рентгеновской дифракции. Этот метод можно использовать для ориентации всех монокристаллов полупроводников. Метод Б. Метод ориентации световой карты. Этот метод в настоящее время используется для ориентации одноэлементных полупроводниковых монокристаллов.
GB/T 1555-1997 История
- 2023 GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
- 2009 GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
- 1997 GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
