GB/T 1553-2009 Методы определения времени жизни неосновных носителей в объемном германии и кремнии путем измерения затухания фотопроводимости (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт определяет метод определения времени жизни неосновных носителей в монокристаллах кремния и германия. Настоящий стандарт распространяется на измерение времени жизни неравновесных неосновных носителей носителей в процессе рекомбинации носителей в примесных монокристаллах кремния и германия. Этот стандарт представляет собой метод импульсного света. Этот метод не разрушает внутренние характеристики образца, и образец может быть испытан повторно, но требует, чтобы образец имел специальный размер стержня и погруженную поверхность, см. Таблицу 1. Наименьшее измеримое значение срока службы этого стандарта составляет 10 мкс. в зависимости от послесвечения источника света. Не подходит для приемочных испытаний полированных дисков.
GB/T 1553-2009 Ссылочный документ
GB/T 14264-2009 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
GB/T 1550-1997 Стандартные методы измерения типа проводимости примесных полупроводниковых материалов
GB/T 1551-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния
GB/T 1553-2009 История
2023GB/T 1553-2023 Определение времени жизни неосновных носителей заряда в кремнии и германии методом распада фотопроводимости
2009GB/T 1553-2009 Методы определения времени жизни неосновных носителей в объемном германии и кремнии путем измерения затухания фотопроводимости
1997GB/T 1553-1997 Стандартные методы определения времени жизни неосновных носителей в объемном германии и кремнии путем измерения затухания фотопроводимости