Настоящий стандарт определяет экологические, механические и электрические методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств военного назначения, а также необходимые меры контроля и ограничения для обеспечения качества и надежности микроэлектронных устройств, отвечающих требованиям использования по назначению. Настоящий стандарт распространяется на микроэлектронные устройства военного и космического назначения. Если производитель указывает или утверждает, что его полупроводниковая интегральная схема соответствует требованиям настоящего стандарта, она должна отвечать требованиям метода 5004, 5005 или 5010 (для сложных микросхем), а гибридные интегральные схемы должны отвечать требованиям GJB 2438 и настоящего стандарта. Общие требования и требования других указанных методов испытаний, а также спецификации продукции должны быть подтверждены органом по стандартизации.
GJB 548B-2005 Ссылочный документ
GB/T 1036 Метод испытания коэффициента линейного теплового расширения пластмасс в диапазоне от -30 ℃ до 30 ℃ с помощью дилатометра из кварцевого стекла.*, 2008-08-04 Обновление
GJB 899 Лист изменений к квалификационным и приемочным испытаниям надежности 1-98
GJB 548B-2005 История
2021GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
2005GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
1996GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
1988GJB 548-1988 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств было изменено на GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств.