GJB 548B-2005 (Англоязычная версия) Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств - Стандарты и спецификации PDF

GJB 548B-2005
Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств (Англоязычная версия)

Стандартный №
GJB 548B-2005
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2005
Разместил
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
состояние
 2022-03
быть заменен
GJB 548C-2021
Последняя версия
GJB 548C-2021
заменять
GJB 548A-1996
сфера применения
Настоящий стандарт определяет экологические, механические и электрические методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств военного назначения, а также необходимые меры контроля и ограничения для обеспечения качества и надежности микроэлектронных устройств, отвечающих требованиям использования по назначению. Настоящий стандарт распространяется на микроэлектронные устройства военного и космического назначения. Если производитель указывает или утверждает, что его полупроводниковая интегральная схема соответствует требованиям настоящего стандарта, она должна отвечать требованиям метода 5004, 5005 или 5010 (для сложных микросхем), а гибридные интегральные схемы должны отвечать требованиям GJB 2438 и настоящего стандарта. Общие требования и требования других указанных методов испытаний, а также спецификации продукции должны быть подтверждены органом по стандартизации.

GJB 548B-2005 Ссылочный документ

  • GB/T 1036  Метод испытания коэффициента линейного теплового расширения пластмасс в диапазоне от -30 ℃ до 30 ℃ с помощью дилатометра из кварцевого стекла.*2008-08-04 Обновление
  • GB/T 12842 Терминология пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем.
  • GB/T 3131 Оловянно-свинцовый припой*2020-09-29 Обновление
  • GB/T 9178 Терминология для интегральных схем
  • GB/T 9491 Флюс для пайки олова*2021-12-31 Обновление
  • GJB 1208 Требования к сертификации микросхем
  • GJB 1209 Методы испытаний и процедуры сертификации линеек микросхем
  • GJB 128 Спецификация аэрофотосъемки для военного топографического картографирования
  • GJB 2438 Общие спецификации гибридных интегральных схем
  • GJB 2712 Требования к обеспечению качества средств измерений Система метрологического подтверждения
  • GJB 597 Общая спецификация микросхемы
  • GJB 899 Лист изменений к квалификационным и приемочным испытаниям надежности 1-98

GJB 548B-2005 История

  • 2021 GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 2005 GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 1996 GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 1988 GJB 548-1988 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств

GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств было изменено на GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств.




© 2023. Все права защищены.