Методы измерения, указанные в настоящем стандарте, подходят для измерения коэффициента Холла, холловской подвижности носителей, удельного сопротивления и концентрации носителей примесных полупроводниковых монокристаллических материалов. Методы измерений, предусмотренные настоящим стандартом, позволяют проводить лабораторные измерения только монокристаллических материалов германия, кремния, арсенида галлия и фосфида галлия в ограниченном диапазоне, но этот метод также может применяться к другим полупроводниковым монокристаллическим материалам. В целом, он подходит для тестирования полупроводниковых монокристаллических материалов с сопротивлением при комнатной температуре до 104 Ом·см.