Настоящий стандарт применяется к определению холловской подвижности носителей в образцах монокристаллов внешних полупроводников. Для определения холловской подвижности необходимо измерить удельное сопротивление и коэффициент Холла, поэтому этот стандарт также применяется к измерению этих параметров соответственно.