GB/T 17473.7-2008
Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение паяемости и стойкости к распаиванию. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 17473.7-2008
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2008
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2022-10
- быть заменен
- GB/T 17473.7-2022
- Последняя версия
- GB/T 17473.7-2022
- заменять
- GB/T 17473.7-1998
- сфера применения
- В этой части изложены методы определения паяемости и стойкости паяльных паст из драгоценных металлов для микроэлектронной техники. Эта часть применима для определения паяемости и стойкости к пайке паяльных паст из драгоценных металлов для микроэлектронной техники.
GB/T 17473.7-2008 История
- 2022 GB/T 17473.7-2022 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в микроэлектронике. Часть 7. Определение паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.
- 2008 GB/T 17473.7-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение паяемости и стойкости к распаиванию.
- 1998 GB/T 17473.7-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Испытание паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.
GB/T 17473.7-2008 - Все части
GB/T 17473.1-2008 Метод определения паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение содержания сухих веществ
GB/T 17473.2-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности
GB/T 17473.3-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение листового сопротивления.
GB/T 17473.4-2008 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение адгезии
GB/T 17473.5-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение вязкости
GB/T 17473.6-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение разрешающей способности.
GB/T 17473.7-2022 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в микроэлектронике. Часть 7. Определение паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.