GB/T 17473.2-2008 (Англоязычная версия) Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 17473.2-2008
Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 17473.2-2008
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2008
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 17473.2-2008
заменять
GB/T 17473.2-1998
сфера применения
В настоящей части установлен скребковый метод определения крупности паст из драгоценных металлов, применяемых в технике микроэлектроники. Данный раздел относится к определению крупности паст из драгоценных металлов, используемых в технике микроэлектроники.

GB/T 17473.2-2008 Ссылочный документ

  • GB/T 8170  Правила округления числовых значений и выражения и определения предельных значений*2008-07-16 Обновление

GB/T 17473.2-2008 История

  • 2008 GB/T 17473.2-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности
  • 1998 GB/T 17473.2-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение крупности

GB/T 17473.2-2008 - Все части

GB/T 17473.1-2008 Метод определения паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение содержания сухих веществ GB/T 17473.2-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности GB/T 17473.3-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение листового сопротивления. GB/T 17473.4-2008 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение адгезии GB/T 17473.5-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение вязкости GB/T 17473.6-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение разрешающей способности. GB/T 17473.7-2022 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в микроэлектронике. Часть 7. Определение паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.



© 2023. Все права защищены.