В настоящей части установлен метод определения вязкости паст из драгоценных металлов для микроэлектроники. Данный раздел относится к определению вязкости паст из драгоценных металлов, используемых в микроэлектронике.
GB/T 17473.5-2008 Ссылочный документ
GB/T 8170 Правила округления числовых значений и выражения и определения предельных значений*, 2008-07-16 Обновление
GB/T 17473.5-2008 История
2008GB/T 17473.5-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение вязкости
1998GB/T 17473.5-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение вязкости.