GB/T 17473.6-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение разрешающей способности. (Англоязычная версия)
В настоящей части указан метод определения разрешения паст драгоценных металлов, используемых в технологии микроэлектроники. Данный раздел относится к определению разрешающей способности паст из драгоценных металлов, используемых в технике микроэлектроники.
GB/T 17473.6-2008 Ссылочный документ
GB/T 8170 Правила округления числовых значений и выражения и определения предельных значений*, 2008-07-16 Обновление
GB/T 17473.6-2008 История
2008GB/T 17473.6-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение разрешающей способности.
1998GB/T 17473.6-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение разрешающей способности.