IEC 60749-4:2017
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
- Стандартный №
- IEC 60749-4:2017
- Дата публикации
- 2017
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-4:2017
- заменять
- IEC 47/2346/FDIS:2016 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-4 CORR 1:2003
- сфера применения
- В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены ускоренные испытания на воздействие температуры и влажности (HAST) с целью оценки надежности полупроводниковых приборов в негерметичном корпусе во влажной среде.
IEC 60749-4:2017 Ссылочный документ
- IEC 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
IEC 60749-4:2017 История
- 2017 IEC 60749-4:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
- 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Влажное тепло @ Устойчивое состояние @ Высоко ускоренное стрессовое испытание (HAST) ИСПРАВЛЕНИЕ 1 (Редакция 1.0)
- 2002 IEC 60749-4:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
