IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Влажное тепло @ Устойчивое состояние @ Высоко ускоренное стрессовое испытание (HAST) ИСПРАВЛЕНИЕ 1 (Редакция 1.0)

Стандартный №

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

Дата публикации

2003

Разместил

IEC - International Electrotechnical Commission

состояние

быть заменен 2017-03

быть заменен

IEC 60749-4:2017

Последняя версия

IEC 60749-4:2017

IEC 60749-4:2002/COR1:2003 История

• 2017 IEC 60749-4:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
• 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Влажное тепло @ Устойчивое состояние @ Высоко ускоренное стрессовое испытание (HAST) ИСПРАВЛЕНИЕ 1 (Редакция 1.0)
• 2002 IEC 60749-4:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).