IEC 60749-4:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).

Стандартный №: IEC 60749-4:2002
Дата публикации: 2002
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние: быть заменен 2017-03
быть заменен: IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Последняя версия: IEC 60749-4:2017
заменять: IEC 47/1532A/CDV:2000 IEC 47/1602/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62177:2000

сфера применения: В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены ускоренные испытания на воздействие температуры и влажности (HAST) с целью оценки надежности полупроводниковых приборов в негерметичном корпусе во влажной среде.

IEC 60749-4:2002 История

2017 IEC 60749-4:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Влажное тепло @ Устойчивое состояние @ Высоко ускоренное стрессовое испытание (HAST) ИСПРАВЛЕНИЕ 1 (Редакция 1.0)
2002 IEC 60749-4:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).

IEC 60749-4:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST). было изменено на IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.