IEC 60749-5:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
- Стандартный №
- IEC 60749-5:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- 2017-04
- быть заменен
- IEC 60749-5:2017
- Последняя версия
- IEC 60749-5:2023 PRV
- заменять
- IEC 47/1661/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62161:2000
- сфера применения
- Обеспечивает испытание на долговечность при устойчивой температуре и влажности с целью оценки надежности негерметичных полупроводниковых устройств во влажной среде.
IEC 60749-5:2003 История
- 0000 IEC 60749-5:2023 PRV
- 2017 IEC 60749-5:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
- 2003 IEC 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
IEC 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности. было изменено на IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.
