IEC 60749-5:2017
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
- Стандартный №
- IEC 60749-5:2017
- Дата публикации
- 2017
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- 2023-09
- быть заменен
- IEC 60749-5:2023 PRV
- Последняя версия
- IEC 60749-5:2023 PRV
- заменять
- IEC 47/2367/FDIS:2017 IEC 60749-5:2003
- сфера применения
- В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены испытания на долговечность при установившейся температуре и смещении влажности с целью оценки надежности негерметичных корпусных полупроводниковых устройств во влажной среде. Этот метод испытаний считается разрушительным.
IEC 60749-5:2017 Ссылочный документ
- IEC 60749-4:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
IEC 60749-5:2017 История
- 0000 IEC 60749-5:2023 PRV
- 2017 IEC 60749-5:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
- 2003 IEC 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
