Настоящий стандарт определяет метод измерения напряжения-емкости ртутным зондом концентрации носителей заряда эпитаксиального слоя кремния. Настоящий стандарт применим для измерения концентрации носителей заряда в однородном эпитаксиальном слое кремния. Диапазон измерения: 4×10 см~8×10 см. Толщина эпитаксиального слоя кремния, испытываемого по этому стандарту, должна быть больше, чем глубина обеднения при испытательном смещении. Этот стандарт также применим к измерению концентрации носителей заряда на полированных кремниевых пластинах.
GB/T 14146-2009 Ссылочный документ
GB/T 14847-1993 Метод определения толщины эктаксиальных слоев легколегированного кремния на подложках из сильнолегированного кремния по коэффициенту отражения инфракрасного излучения
GB/T 1550-1997 Стандартные методы измерения типа проводимости примесных полупроводниковых материалов
GB/T 1552-1995 Методика измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния и германия коллинеарной четырехзондовой решеткой
GB/T 14146-2009 История
2021GB/T 14146-2021 Метод определения концентрации носителей заряда в эпитаксиальных слоях кремния — вольт-емкостный метод.
2009GB/T 14146-2009 Эпитаксиальные слои кремния-определение концентрации носителей-напряжения ртутного зонда-емкостный метод