ASTM E1021-15
Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств

Стандартный №

ASTM E1021-15

Дата публикации

2015

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM E1021-15(2019)

Последняя версия

ASTM E1021-15(2019)

сфера применения

5.1 Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства необходима для расчета параметра спектрального несоответствия (см. Метод испытаний E973). Спектральное несоответствие используется в Методе испытаний E948 для измерения характеристик фотоэлектрических элементов при искусственном солнечном свете, в Методах испытаний E1036 для измерения характеристик фотоэлектрических модулей и массивов, в Методе испытаний E1125 для калибровки первичных фотоэлектрических эталонных элементов с использованием табличного спектра и в Метод испытаний E1362 для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных элементов. Параметр спектрального несоответствия можно вычислить с использованием данных абсолютной или относительной спектральной чувствительности. 5.2. Этот метод испытаний измеряет дифференциальную спектральную чувствительность фотоэлектрического устройства. Процедура требует использования смещения белого света, чтобы пользователь мог оценить зависимость дифференциальной спектральной чувствительности от интенсивности света, попадающего на устройство. Когда такая зависимость существует, общая спектральная чувствительность должна быть эквивалентна дифференциальной спектральной чувствительности при уровне светового смещения где-то между нулем и предполагаемыми условиями эксплуатации устройства. В зависимости от линейности реакции ИУ в диапазоне интенсивности до предполагаемых условий эксплуатации может не потребоваться установка очень высокого уровня смещения света. 5.3. Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства полезна для понимания характеристик устройства и характеристик материала. 5.4. Описанная здесь процедура подходит для использования либо в исследованиях и разработках, либо при контроле качества продукции производителями. 5.5 Калибровка эталонного фотодетектора должна быть прослеживаема до единиц СИ с помощью шкалы спектральной чувствительности Национального института стандартов и технологий (NIST) или другой соответствующей радиометрической шкалы.3,4 Режим калибровки фотодетектор (излучение или мощность) будет влиять на используемые процедуры и виды измерений, которые могут быть выполнены. 5.6. Этот метод испытаний не решает вопросы стабильности образца. 5.7. Используя результаты, полученные с помощью этого метода испытаний, и дополнительные измерения, включая зависимость отражательной способности от длины волны, можно вычислить внутреннюю квантовую эффективность устройства. Эти измерения выходят за рамки данного метода испытаний. 5.8. Этот метод испытаний предназначен для использования с однопереходным фотоэлектрическим элементом. Его также можно использовать для измерения спектральной чувствительности одного перехода в последовательно соединенном фотоэлектрическом устройстве с несколькими переходами, если можно установить электрический контакт с отдельными интересующими переходами. 5.9 С помощью дополнительных процедур (см. Методы испытаний E2236) можно определить спектральную чувствительность отдельного соединения......

ASTM E1021-15 Ссылочный документ

• ASTM E1036 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек*， 2019-04-01 Обновление
• ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
• ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• ASTM E2236 Стандартные методы испытаний для измерения электрических характеристик и спектрального отклика многопереходных фотоэлектрических элементов и модулей без концентратора*， 2019-04-01 Обновление
• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
• ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
• ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
• ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
• ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*， 2023-03-01 Обновление

ASTM E1021-15 История

• 2019 ASTM E1021-15(2019) Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2015 ASTM E1021-15 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2012 ASTM E1021-12 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2006 ASTM E1021-06 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 1995 ASTM E1021-95(2001) Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
• 1995 ASTM E1021-95 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов