Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства необходима для расчета параметра спектрального несоответствия (см. Метод испытаний E973). Спектральное несоответствие используется в Методе испытаний E948 для измерения характеристик фотоэлектрических элементов при искусственном солнечном свете, в Методах испытаний E1036 для измерения характеристик фотоэлектрических модулей и массивов, в Методе испытаний E1125 для калибровки первичных фотоэлектрических эталонных элементов с использованием табличного спектра и в Метод испытаний E1362 для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных элементов. Параметр спектрального несоответствия можно вычислить с использованием данных абсолютной или относительной спектральной чувствительности. Этот метод испытаний позволяет измерить дифференциальную спектральную чувствительность фотоэлектрического устройства. Процедура требует использования смещения белого света, чтобы пользователь мог оценить зависимость дифференциальной спектральной чувствительности от интенсивности света, попадающего на устройство. Когда такая зависимость существует, общая спектральная чувствительность должна быть эквивалентна дифференциальной спектральной чувствительности при уровне светового смещения где-то между нулем и предполагаемыми условиями эксплуатации устройства. Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства полезна для понимания производительности устройства и характеристик материала. Описанная здесь процедура подходит для использования либо в исследованиях и разработках, либо при контроле качества продукции производителями. Калибровка эталонного фотодетектора должна быть прослежена до единиц СИ с помощью шкалы спектральной чувствительности Национального института стандартов и технологий (NIST) или другой соответствующей радиометрической шкалы. , Режим калибровки фотодетектора (излучение или мощность) будет влиять на используемые процедуры и виды измерений, которые можно выполнять. Этот метод испытаний не решает вопросы стабильности образца. Используя результаты, полученные с помощью этого метода испытаний, и дополнительные измерения, включая зависимость отражения от длины волны, можно вычислить внутреннюю квантовую эффективность устройства. Эти измерения выходят за рамки данного метода испытаний. Этот метод испытаний предназначен для использования с однопереходным фотоэлектрическим элементом. Его также можно использовать для измерения спектральной чувствительности одного перехода в последовательно соединенном фотоэлектрическом устройстве с несколькими переходами, если можно установить электрический контакт с отдельными интересующими переходами. С помощью дополнительных процедур (см. Методы испытаний E2236) можно определить спектральную чувствительность отдельных переходов в последовательно соединенных фотоэлектрических устройствах с несколькими переходами, когда электрический контакт может быть установлен только с двумя клеммами всего устройства. Используя методы прямого смещения, можно расширить процедуру этого метода испытаний для измерения спектральной чувствительности отдельных последовательно соединенных ячеек внутри фотоэлектрических модулей. Эти методы выходят за рамки настоящего метода испытаний. 1.1. Этот метод испытаний должен использоваться для определения абсолютной или относительной спектральной чувствительности однопереходного фотоэлектрического устройства. 1.2 Поскольку квантовая эффективность напрямую связана со спектральной чувствительностью, этот метод испытаний можно использовать для определения квантовой эффективности однопереходного фотоэлектрического устройства (см. 10.10). 1.3 Ти......
ASTM E1021-12 История
2019ASTM E1021-15(2019) Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
2015ASTM E1021-15 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
2012ASTM E1021-12 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
2006ASTM E1021-06 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
1995ASTM E1021-95(2001) Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
1995ASTM E1021-95 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов