ASTM E1021-15(2019)
Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств

Стандартный №

ASTM E1021-15(2019)

Дата публикации

2019

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E1021-15(2019)

сфера применения

1.1 Этот метод испытаний должен использоваться для определения абсолютной или относительной спектральной чувствительности однопереходного фотоэлектрического устройства. 1.2 Поскольку квантовая эффективность напрямую связана со спектральной чувствительностью, этот метод испытаний можно использовать для определения квантовой эффективности однопереходного фотоэлектрического устройства (см. 10.10). 1.3 Этот метод испытаний требует использования лампы смещения. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.6 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1021-15(2019) Ссылочный документ

• ASTM E1036 Стандартные методы испытаний электрических характеристик наземных фотоэлектрических модулей и матриц без концентраторов с использованием эталонных ячеек
• ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
• ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• ASTM E2236 Стандартные методы испытаний для измерения электрических характеристик и спектрального отклика многопереходных фотоэлектрических элементов и модулей без концентратора
• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
• ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
• ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
• ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
• ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*， 2023-03-01 Обновление

ASTM E1021-15(2019) История

• 2019 ASTM E1021-15(2019) Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2015 ASTM E1021-15 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2012 ASTM E1021-12 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 2006 ASTM E1021-06 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
• 1995 ASTM E1021-95(2001) Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
• 1995 ASTM E1021-95 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов