ASTM E973-91e1
Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом

Стандартный №

ASTM E973-91e1

Дата публикации

1991

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

снять со счета 2005-08

быть заменен

ASTM E973-02

Последняя версия

ASTM E973-16(2020)

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний описывает определение параметра спектрального несоответствия, используемого при испытаниях фотоэлектрических устройств. Параметр спектрального несоответствия является мерой погрешности, вносимой при тестировании фотоэлектрического устройства, вызванной несоответствием спектральных характеристик фотоэлектрического устройства и фотоэлектрического эталонного элемента, а также несоответствием между тестовым источником света и эталонным спектральным элементом. распределение освещенности, например стандартные таблицы E490, E891 или E892, по которым был откалиброван эталонный фотоэлектрический элемент. Спектральное несоответствие, которое рассчитывается с использованием этих четырех спектральных величин, является количественной мерой ошибки измерения тока короткого замыкания и может использоваться для коррекции данных о характеристиках фотоэлектрических систем. 1.2 Параметр спектрального рассогласования предназначен для использования с линейными фотоэлектрическими устройствами. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E973-91e1 История

• 2020 ASTM E973-16(2020) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2016 ASTM E973-16 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2015 ASTM E973-15 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2015 ASTM E973-10(2015) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2010 ASTM E973-10 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2005 ASTM E973-05a Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2005 ASTM E973-05 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 2002 ASTM E973-02 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• 1991 ASTM E973-91e1 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом