ASTM E766-14(2019)
Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Стандартный №

ASTM E766-14(2019)

Дата публикации

2019

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E766-14(2019)

сфера применения

1.1 Данная методика охватывает общие процедуры, необходимые для калибровки увеличения сканирующих электронных микроскопов. Взаимосвязь между истинным увеличением и индикаторным увеличением является сложной функцией условий эксплуатации.2 Следовательно, эту практику необходимо применять к каждому набору стандартных условий эксплуатации, которые будут использоваться. 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.4 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E766-14(2019) Ссылочный документ

• ASTM E177 Стандартная практика использования терминов «точность» и «предвзятость» в методах испытаний ASTM
• ASTM E29 Стандартная практика использования значащих цифр в тестовых данных для определения соответствия спецификациям
• ASTM E456  Стандартная терминология, касающаяся качества и статистики
• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
• ASTM E7 Стандартная терминология, относящаяся к металлографии*， 2022-10-01 Обновление

ASTM E766-14(2019) История

• 2019 ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• 2014 ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• 2014 ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• 1998 ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• 1998 ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• 1998 ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа