ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
4.1. Этот метод испытаний полезен для прямого измерения толщины металлических покрытий и отдельных слоев композитных покрытий, особенно для слоев, более тонких, чем обычно измеряются с помощью светового микроскопа. 4.2 Этот метод испытаний подходит для приемочных испытаний. 4.3. Этот метод испытаний предназначен для измерения толщины покрытия на очень небольшой площади, а не средней или минимальной толщины как таковой. 4.4. Точные измерения с помощью этого метода испытаний обычно требуют очень тщательной подготовки проб, особенно при больших увеличениях. 4.5. Толщина покрытия является важным фактором, влияющим на эксплуатационные характеристики покрытия в процессе эксплуатации. 1.1. Этот метод испытаний охватывает измерение толщины металлического покрытия путем исследования поперечного сечения с помощью сканирующей электронной микроскопии (SEM). 1.2. Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM B748-90(2016) Ссылочный документ
ASTM E3 Стандартная практика подготовки металлографических образцов*, 1995-10-31 Обновление
ASTM E766 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа*, 1998-10-31 Обновление
ASTM B748-90(2016) История
2021ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
1990ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
1990ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
1990ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
1990ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
1990ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа