ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа - Стандарты и спецификации PDF

ASTM B748-90(2010)
Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа

Стандартный №
ASTM B748-90(2010)
Дата публикации
1990
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM B748-90(2016)
Последняя версия
ASTM B748-90(2021)
сфера применения
Этот метод испытаний полезен для прямого измерения толщины металлических покрытий и отдельных слоев композитных покрытий, особенно для слоев, более тонких, чем обычно измеряются с помощью светового микроскопа. Этот метод испытаний подходит для приемочных испытаний. Этот метод испытаний предназначен для измерения толщины покрытия на очень небольшой площади, а не средней или минимальной толщины как таковой. Точные измерения с помощью этого метода обычно требуют очень тщательной подготовки проб, особенно при больших увеличениях. Толщина покрытия является важным фактором, определяющим эксплуатационные характеристики покрытия в процессе эксплуатации. 1.1 Этот метод испытаний охватывает измерение толщины металлического покрытия путем исследования поперечного сечения с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM B748-90(2010) История

  • 2021 ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • 1990 ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • 1990 ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • 1990 ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • 1990 ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
  • 1990 ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа



© 2023. Все права защищены.