ASTM E1523-15
Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Стандартный №

ASTM E1523-15

Дата публикации

2015

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E1523-15

сфера применения

5.1. Получение химической информации на основе изменений энергетического положения пиков в спектре РФЭС представляет основной интерес при использовании РФЭС в качестве инструмента анализа поверхности. Поверхностный заряд приводит к смещению спектральных пиков независимо от их химического отношения к другим элементам на той же поверхности. Стремление устранить влияние поверхностного заряда на положение и форму пиков привело к разработке нескольких эмпирических методов, призванных помочь в интерпретации положения пиков РФЭС, определить химию поверхности и позволить сравнить спектры проводящих и непроводящих веществ. -проводящие системы одного и того же элемента. Предполагается, что спектрометр в целом работает правильно для неизолирующих образцов (см. Методику E902). 5.2. Хотя в настоящее время разработаны высоконадежные методы стабилизации поверхностных потенциалов во время РФЭС-анализа большинства материалов (5, 6), не разработано единого метода, позволяющего справиться с поверхностным зарядом при всех обстоятельствах (10, 11). . Для изоляторов правильный выбор любой системы контроля или сравнения будет зависеть от природы образца, инструментов и необходимой информации. Соответствующее использование методов контроля заряда и привязки приведет к получению более последовательных и воспроизводимых данных. Исследователям настоятельно рекомендуется сообщать об использованных методах контроля и сравнения, конкретных пиках и энергиях связи, используемых в качестве стандартов (если таковые имеются), а также критериях, применяемых при определении оптимальных результатов, чтобы можно было провести соответствующие сравнения. 1.1 Это руководство знакомит пользователей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) с различными методами контроля заряда и привязки к сдвигу заряда, которые используются и использовались при получении и интерпретации данных XPS с поверхностей изолирующих образцов и предоставляет информацию, необходимую для сообщения об используемых методах клиентам или в литературе. 1.2 Настоящее руководство предназначено для применения к методам контроля заряда и привязки заряда в XPS и не обязательно применимо к системам с электронным возбуждением. 1.3. Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.4. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E1523-15 Ссылочный документ

• ASTM E1078 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности
• ASTM E1829 Стандартное руководство по обращению с образцами перед анализом поверхности
• ASTM E673  Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности
• ASTM E902 Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров

ASTM E1523-15 История

• 2015 ASTM E1523-15 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
• 2009 ASTM E1523-09 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
• 2003 ASTM E1523-03 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
• 1997 ASTM E1523-97 Стандартное руководство по методам контроля заряда и привязки заряда в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии