IEC 61788-4:2016
Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn

Стандартный №

IEC 61788-4:2016

Дата публикации

2016

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 61788-4:2020 RLV

Последняя версия

IEC 61788-4:2020 RLV

заменять

IEC 90/359/FDIS:2015 IEC 61788-4:2011

сфера применения

В этой части IEC 61788 определен метод испытаний для определения коэффициента остаточного сопротивления (RRR) композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn с матрицей Cu, Cu-Ni, Cu/Cu-Ni и Al. Этот метод предназначен для использования с образцами сверхпроводников, имеющими монолитную структуру с прямоугольным или круглым сечением, величиной RRR менее 350 и площадью поперечного сечения менее 3 мм2. В случае Nb3Sn образцы подвергались реакционной термообработке.

IEC 61788-4:2016 Ссылочный документ

• IEC 60050-815:2015 Международный электротехнический словарь. Часть 815: Сверхпроводимость

IEC 61788-4:2016 История

• 0000 IEC 61788-4:2020 RLV
• 2016 IEC 61788-4:2016 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn
• 2011 IEC 61788-4:2011 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2007 IEC 61788-4:2007 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2001 IEC 61788-4:2001 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления; Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti