IEC 61788-4:2001
Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления; Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti

Стандартный №

IEC 61788-4:2001

Дата публикации

2001

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2011-07

быть заменен

IEC 61788-4:2007

Последняя версия

IEC 61788-4:2020 RLV

сфера применения

В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения коэффициента остаточного сопротивления (RRR) композитного сверхпроводника, состоящего из нитей Nb-Ti и матрицы Cu, Cu-Ni или Cu/Cu-Ni. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими прямоугольное или круглое сечение, RRR менее 350 и площадь поперечного сечения менее 3 мм. Все измерения должны проводиться без приложенного магнитного поля. Метод, описанный в основной части настоящего стандарта, является «эталонным» методом, а дополнительные методы сбора данных описаны в приложении А.

IEC 61788-4:2001 История

• 0000 IEC 61788-4:2020 RLV
• 2016 IEC 61788-4:2016 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn
• 2011 IEC 61788-4:2011 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2007 IEC 61788-4:2007 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2001 IEC 61788-4:2001 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления; Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti