IEC 61788-4:2011
Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti

Стандартный №

IEC 61788-4:2011

Дата публикации

2011

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2016-01

быть заменен

IEC 61788-4:2016

Последняя версия

IEC 61788-4:2020 RLV

заменять

IEC 90/263/FDIS:2011 IEC 61788-4:2007

сфера применения

«Эта часть IEC 61788 охватывает метод испытаний для определения коэффициента остаточного сопротивления (RRR) композитных сверхпроводников, состоящих из нитей Nb-Ti и матрицы Cu@Cu-Ni или Cu/Cu-Ni. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими монолитную структуру с прямоугольным или круглым сечением@RRR менее 350@ и площадью поперечного сечения менее 3 мм2.Все измерения проводятся без приложенного магнитного поля.Метод, описанный в основной части настоящего стандарта, «эталонный» метод и дополнительные методы сбора данных описаны в пункте А.3».

IEC 61788-4:2011 История

• 0000 IEC 61788-4:2020 RLV
• 2016 IEC 61788-4:2016 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn
• 2011 IEC 61788-4:2011 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2007 IEC 61788-4:2007 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 2001 IEC 61788-4:2001 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления; Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti