ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

сфера применения: В этом документе описан метод определения кажущегося направления роста с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Он применим ко всем видам проволочных кристаллических материалов, изготовленных различными методами. Этот документ также может служить руководством для определения направления оси частиц второй фазы стержнеобразной или многоугольной формы в сталях, сплавах или других материалах. Применимый диаметр или ширина испытываемых кристаллов находится в диапазоне от десятков до сотен нанометров, в зависимости от ускоряющего напряжения ТЭМ и самого материала. П р и м е ч а н и е — В настоящем документе проволочные кристаллы, ленточные кристаллы, игольчатые частицы второй фазы и т. д. отнесены к широкой категории проволочных кристаллов.

ISO 19214:2017 Ссылочный документ

ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения (GUM:1995).

2017 ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.