ISO 25498:2010
Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- Стандартный №
- ISO 25498:2010
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- состояние
- быть заменен
- ISO 25498:2018
- Последняя версия
- ISO 25498:2018
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод анализа дифракции электронов на выбранной области (SAED) с использованием просвечивающего электронного микроскопа (TEM) для анализа микронных и субмикронных участков тонких кристаллических образцов. Такие образцы могут быть получены в виде тонких срезов различных металлических и неметаллических материалов, а также тонких порошков или, альтернативно, с использованием экстракционных копий. Минимальный диаметр выделенной области образца, которую можно проанализировать этим методом, зависит от коэффициента сферической аберрации объектива микроскопа и для современного ТЭМ приближается к 0,5 мкм. Если диаметр анализируемой области образца меньше 0,5 мкм, процедура анализа также может быть отнесена к настоящему стандарту, но из-за эффекта сферической аберрации некоторая часть дифракционной информации на картине может генерироваться извне. области, определяемой апертурой выбранной области. В таких случаях может быть предпочтительным использование микродифракции или дифракции сходящимся пучком электронов, где это возможно. Успех метода дифракции электронов на выбранной области зависит от достоверности индексации возникающих дифракционных картин независимо от того, какая ось в образце лежит параллельно падающему электронному пучку. Таким образом, такому анализу помогают средства наклона и вращения образца. Настоящий международный стандарт применим для получения картин SAED из кристаллических образцов, индексации картин и калибровки константы дифракции.
ISO 25498:2010 Ссылочный документ
- ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий*， 2017-11-29 Обновление
ISO 25498:2010 История
- 2018 ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- 2010 ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
