ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Стандартный №: ISO 25498:2018
Дата публикации: 2018
Разместил: International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия: ISO 25498:2018

сфера применения: В этом документе описан метод анализа дифракции электронов выбранной области (SAED) с использованием просвечивающего электронного микроскопа (TEM) для анализа тонких кристаллических образцов. Настоящий документ распространяется на испытательные участки размером в микрометры и субмикрометры. Минимальный диаметр выделенной области образца, которую можно проанализировать этим методом, ограничен коэффициентом сферической аберрации объектива микроскопа и для современного ТЭМ приближается к нескольким сотням нанометров. Если размер анализируемой области образца меньше этого ограничения, этот документ также можно использовать для процедуры анализа. Но из-за эффекта сферической аберрации некоторая информация о дифракции в шаблоне может генерироваться за пределами области, определяемой выбранной апертурой области. В таких случаях может быть предпочтительным использование микродифракции (дифракции нанолучей) или дифракции электронов сходящимся пучком, если это возможно. Этот документ применим для получения картин SAED из кристаллических образцов, индексации картин и калибровки константы дифракции.

ISO 25498:2018 Ссылочный документ

ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий

ISO 25498:2018 История

2018 ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
2010 ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.