ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов - Стандарты и спецификации PDF

ISO 24173:2009
Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

Стандартный №
ISO 24173:2009
Дата публикации
2009
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 24173:2009

ISO 24173:2009 Ссылочный документ

  • ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий*2017-11-29 Обновление
  • ISO/IEC Guide 98-3 Неопределенность измерения - Руководство по выражению неопределенности измерения (ГУМ:1995). Расширение на любое количество выходных величин*2011-11-09 Обновление

ISO 24173:2009 История

  • 2009 ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов



© 2023. Все права защищены.